Taramalı tünelleme mikroskobu
Bu makalede çeşitli bilim alanlarında ilgi ve çalışma konusu olan Taramalı tünelleme mikroskobu konusu ele alınacaktır. Taramalı tünelleme mikroskobu, alaka düzeyi coğrafi ve zamansal sınırları aştığı için uzmanlar ve hayranlar arasında merak ve tartışma uyandıran bir konudur. Tarih boyunca Taramalı tünelleme mikroskobu, çelişkili ve zenginleştirici görüşler üreten, analiz ve yansıma nesnesi olmuştur. Bu anlamda toplum üzerindeki, fikir ve bilginin gelişimi üzerindeki etkisini anlamak için anlayışımızı ve değerlendirmemizi derinleştirmek önemlidir. Kapsamlı bir analiz yoluyla, Taramalı tünelleme mikroskobu'in temel yönlerine ışık tutmaya, bunun sonuçlarını ve gelecekteki olası beklentilerini keşfetmeye çalışıyoruz.
Taramalı tünelleme mikroskobu, yüzeyleri atomik düzeyde görüntülemek için kullanılan alettir. 1981'de, Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından icat edilmiş olup, kendileri 1986 yılında bu icatla Nobel Fizik Ödülü'nü kazanmışlardır.
Kaynakça
- ^ Binnig, Gerd; Rohrer, Heinrich (1986). "Scanning tunneling microscopy". IBM Journal of Research and Development (İngilizce). 30 (4). ss. 355-69.
- ^ "Nobel Fizik Ödülü 1986" (İngilizce). Nobel Vakfı. 12 Mayıs 2016 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
Konuyla ilgili yayınlar
 |
Wikimedia Commons'ta Taramalı tünelleme mikroskobu ile ilgili ortam dosyaları bulunmaktadır. |
- Lapshin, R. V. (2004). "Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology". Nanotechnology (İngilizce). 15 (9). ss. 1135-1151. Bibcode:2004Nanot..15.1135L. doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. ISSN 0957-4484. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
- Lapshin, R. V. (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy". Nalwa, H. S. (Ed.). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (İngilizce). 14. American Scientific Publishers. ss. 105-115. ISBN 978-1-58883-163-7. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
- Fujita, D.; Sagisaka, K. (2008). "Topical review: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy". Science and Technology of Advanced Materials (İngilizce). 9 (1). s. 013003. Bibcode:2008STAdM...9a3003F. doi:10.1088/1468-6996/9/1/013003. PMC 5099790 $2. PMID 27877921.
- Wiesendanger, Roland (1994). Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications (İngilizce). Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-42847-7.
